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Serveur d'exploration sur le nickel au Maghreb - Analysis (Algerie)

Index « RBID.i » - entrée « ISTEX:62DC926944AC8B5C353BB44875FA7A286697C4F6 »
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Ident.Authors (with country if any)Title
000082 (2010) N. Khelifati [Algérie] ; S. Tata [Algérie] ; A. Rahal [Algérie] ; R. Cherfi [Algérie] ; A. Fedala [Algérie, France] ; M. Kechouane [Algérie] ; T. Mohammed-Brahim [France]The annealing temperature effect on the electrical properties of boron‐doped hydrogenated amorphous silicon a‐Si:H(B)

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